影響測量儀新發(fā)展趨勢
更新時間:2018-12-11 點(diǎn)擊次數(shù):1320
影響測量儀的發(fā)展趨勢
全自動影響測量儀是在數(shù)字化影像測量儀基礎(chǔ)上發(fā)展起來的人工智能型現(xiàn)代光學(xué)費(fèi)接觸測量儀器,其承續(xù)了數(shù)字化儀器優(yōu)異的運(yùn)動精度與運(yùn)動操控性能,融合機(jī)器視覺軟件的設(shè)計(jì)靈性,屬于當(dāng)今前沿的光學(xué)尺寸檢測設(shè)備。我司生產(chǎn)的全自動影響測量儀能夠便捷而快速的進(jìn)行坐標(biāo)測量與SPC結(jié)果分類,滿足現(xiàn)代制造業(yè)對尺寸檢測日益突出的要求:更高速,更便捷,更的測量需要,解決制造業(yè)發(fā)展中的又一個瓶頸技術(shù)。
全自動影響測量基于機(jī)器視覺的自動邊緣提取,自動取匹,自動對焦,測量合成,影響合成等人工智能技術(shù),具有:點(diǎn)哪走哪自動測量,自動學(xué)習(xí)批量測量,影響地圖目標(biāo)指引優(yōu)異功能。同時,基于機(jī)器視覺與微米控制下的自動對焦過程,可以滿足清晰造影下輔助測高需要(亦可加入觸電側(cè)頭完成坐標(biāo)測高),支持空間坐標(biāo)旋轉(zhuǎn)的優(yōu)異軟件性能,可在工件隨意放置的情況下進(jìn)行批量測量,亦可使用夾具進(jìn)行大批量掃描測量與SPC結(jié)果分類。
全自動影響測量儀是影像測量技術(shù)的階段,具有高度智能化與自動化特點(diǎn)。其優(yōu)異的軟硬件性能讓坐標(biāo)尺寸變得便捷而愜意,擁有基于機(jī)器視覺與過程控制的自動學(xué)習(xí)功能,依托數(shù)字化儀器高速而的微米級走位,可將測量過程的路徑,對焦,選點(diǎn)功能切換,人工修正,燈光匹配等操作過程自學(xué)并記憶。
全自動影響測量儀可以輕松學(xué)會操作員的所有實(shí)操過程,結(jié)合其自動對焦和區(qū)域搜尋功能,目標(biāo)鎖定,邊緣提取,理匹選點(diǎn)的模糊運(yùn)算實(shí)現(xiàn)人工智能,可自動修正由工件差異和走位差別導(dǎo)致的便宜實(shí)現(xiàn)選點(diǎn),具有高精度的重復(fù)性,從而使操作人員從疲勞目視對位,頻繁選點(diǎn),重復(fù)走位,功能切換等單調(diào)操作和日益繁重的待測任務(wù)中解脫出來,成倍的提高工件批測效率,滿足工業(yè)抽檢與大批量檢測需要。